Sistema de análisis de limpieza de componentes / Microscopio de recuento de partículas de limpieza VDA19.1 e ISO16232

El sistema de análisis de limpieza SinAPC 53M se utiliza para realizar inspecciones técnicas de limpieza de componentes con tamaños de partícula de 5 a 1000 μm o superiores. El sistema de microscopio de conteo de partículas identifica automáticamente partículas metálicas, no metálicas y fibras. Además, mide automáticamente la longitud, el ancho y el área, y clasifica y cuenta las partículas por tamaño. Finalmente, realiza un análisis estadístico según las normas VDA19.1 o ISO16232 para generar un informe de pruebas de limpieza fiable.

El sistema de análisis de limpieza SinAPC 53M incluye los siguientes elementos:

1. Microscopio óptico de gran profundidad de campo

El microscopio corporal Olympus BX53M de gran profundidad de campo (detecta partículas de ≥5 μm) ofrece a los clientes soluciones más completas con un excelente rendimiento de imagen y una experiencia de uso cómoda.

2. Cámara CMOS a color de alta definición

Cámara CMOS a color de alta definición, conector USB 3.0, precisión de 0,5 µm/píxel, resolución real de 2,3 millones de píxeles. Alta velocidad de fotogramas: 40 fotogramas por segundo; captura rápida sin retardo.

3. Plataforma de escaneo motorizada de alta precisión

Control totalmente automático de los ejes X, Y, Z de la repetibilidad del escáner: ≤ 1 µm Carrera: 80 mm * 60 mm Velocidad máxima: ≥ 100 mm / s Paso mínimo: ≤ 200 nm.

4. Software profesional de análisis de limpieza

Software profesional de análisis de limpieza, eficiente y sencillo; tecnología de empalme sin fisuras, posicionamiento repetido de cada partícula, visualización completa del mapa, estadísticas de partículas, evaluación automática y exportación con un solo clic de informes profesionales, etc., lo que lo hace altamente eficiente, preciso y fiable.